計測・分析機器
EVALUATION

イメージメジャーIM/LM

非接触測定技術と高性能なビジョンシステムを活用し、複雑な形状や微細な製品まで高精度な測定が可能

走査型電子顕微鏡
エネルギー分散形Ｘ線分析装置（SEM/EDS）

金属の破壊解析（破面解析）及び、めっき表面の異常観察などに活用。破断面解析を自社で行う事で、折損などの発生原因を迅速に特定可能

非線形解析プログラム（ADINA）

リアルタイムの物理シミュレーションや複雑なデータ解析、設計改善、製品テスト等幅広く対応でき、高度なシミュレーションを実現できるソフトウェア

耐久試験機

自社開発の耐久試験機により自社内でばねの耐久性を評価することが可能